매설 배관에 외부전원식을 적용하는 경우 양극을 매설하여야 하며 이때 양극의 접지 저항에 따라 발생 전류가 영향을 받으며 접지저항은 토양비저항에 따라 영향을 받는다. 즉, 토양비저항에 따라 발생되는 방식전류량이 결정 되므로 필요한 소요 전류량을 충족시킬 수 있는 양극 수량을 산출하기 위하여 토양비저항을 측정한다.
장비 | Wenner방법 핀 배열 | 측정 방법 |
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![]() Yokogawa(Model No.3244) 대지 비저항 측정기 |
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장비 |
![]() Yokogawa(Model No.3244) 대지 비저항 측정기 |
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Wenner방법 핀 배열 |
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측정 방법 |
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구분 | 비저항(Ω-cm) | 부식정도 |
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부식성 | < 500 | 아주 크다 |
500 ~ 1,000 | 크다 | |
1,000 ~ 2,000 | 중간 | |
2,000 ~ 10,000 | 작다 | |
> 10,000 | 아주 작다 |
구분 | 부식성 | 부식도(mm/년) |
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부식도 | 극심 | > 0.125 |
심함 | 0.04 ~ 0.125 | |
보통 | 0.01 ~ 0.04 | |
약함 | 0.0025 ~ 0.01 | |
미약 | < 0.0025 |
pH에 의한 부식도 | 함수율과 비저항 관계 |
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pH에 의한 부식도 |
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함수율과 비저항 관계 |
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가통전 시험은 땅속에 임시 양극을 설치하여 양극에 전원의 (+)극을, 대상배관에 (-)극을 접속하고 통전 시험으로 전류의 크기와 방식 대상물의 대지(對地)전위의 변화량을 조사한다. 이때의 전류와 대지 전위의 변화량에서 도복장의 정도, 전기방식의 정도, 전기방식 할 때의 필요한 전류량과 방식 효과를 확인 할 수 있다.
장비 | 시험 개요도 | 방식구간 산정 그래프 |
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![]() 시험용 정류기 |
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장비 |
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![]() 시험용 정류기 |
시험 개요도 |
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방식구간 산정 그래프 |
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타 배관 방식설비에 의한 간섭 | 전철 누설전류에 의한 간섭 |
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타 배관 방식설비에 의한 간섭 |
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전철 누설전류에 의한 간섭 |
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장비 | 시험 개요도 |
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![]() 기준전극 ![]() Digital Multimeter |
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방식 전위 기준 | ||
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금속의 종류 | 환경 | 방식전위(Volt) |
연(Pb) | 지하매설, 수중 | -0.55 |
철, 강 | 지하매설, 수중 | -0.85 |
철, 강 | 혐기성 환경 | -0.95 |
알루미늄 | 지하매설, 수중 | -0.95~-1.2 |
동 계 합금 | 지하매설, 수중 | -0.5~-0.65 |
장비 |
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![]() 기준전극 ![]() Digital Multimeter |
시험 개요도 |
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방식 전위 기준 | ||
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금속의 종류 | 환경 | 방식전위(Volt) |
연(Pb) | 지하매설, 수중 | -0.55 |
철, 강 | 지하매설, 수중 | -0.85 |
철, 강 | 혐기성 환경 | -0.95 |
알루미늄 | 지하매설, 수중 | -0.95 ~ -1.2 |
동 계 합금 | 지하매설, 수중 | -0.5 ~ -0.65 |
1. 배관 피복은 시공 과정에서 손상될 수 있으며, 시간 경과에 따른 피복의 열화 등의 원인으로 피복 손상이 생기게 된다. 피복이 손상된 배관은 배관의 금속 부분과 토양, 물 등과 직접적으로 접촉하게 되므로 부식반응이 일어나게 되는데 이를 방지하기 위하여 배관에 방식전류를 흐르게 하여 배관을 음극화 시키므로서 부식반응을 억제하는 전기방식방법을 적용한다. 피복이 손상된 배관은 방식설비에 의하여 방식전위가 유지되면 부식이 방지될 수 있지만 시간이 경과함에 따라 피복손상부 주변의 피복에서 박리가 일어나기도 한다.
2. 피복의 박리는 음극방식 과정에서 수소이온과 전자가 결합하여 수소가 발생하는 과정에서 발생하는 음극박리(Cathodic disbonding)에 의하여 생기며, 박리가 심한 곳에서는 음극방식차폐(Cathodic Shielding) 현상에 의하여 방식전류가 들뜬 피복의 안쪽 배관으로 충분히 유입되지 못하게 되며 배관의 전위가 기준전위 값 보다 양(+)의 전위 값을 갖게 되어 방식이 되지 않은 상태에 있게 되며 손상부의 크기와 토양의 부식 환경에 따라 부식의 정도가 결정되게 된다.
DCVG (Direct Current Voltage Gradient)법 | CIPS(Close Interval potential survey)법 |
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DCVG (Direct Current Voltage Gradient)법 |
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CIPS(Close Interval potential survey)법 |
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